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<strong>Machine Learning and Pattern Matching in VLSI CAD</strong>

時間：2016年3月17日上午10：00 地點：九龍湖計算機樓313會議室

報告簡介：

Machine learning and pattern matching are powerful computer science techniques which can derive knowledge from big data, and make prediction. Since nanometer VLSI design and manufacturing have extremely high complexity and gigantic data, there has been a surge recently in applying and adapting machine learning and pattern matching techniques in VLSI physical design and verification, e.g., lithography hotspot detection and data/pattern-driven physical design, as they can raise the level of abstraction from detailed physics-based simulations and provide reasonably good quality-of-result. This talk will discuss some key techniques and recent results of machine learning and pattern matching with their applications in VLSI design and CAD.

報告人簡介：

潘志剛（David Z. Pan）博士，IEEE Fellow, 美國德克薩斯大學奧斯汀分校(UT Austin)電子與計算機工程系終身講席教授 (Engineering Foundation Professor)。1992年獲北京大學地球物理系學士學位, 1994/1998/2000年分别獲得加州大學洛杉矶分校(UCLA)大氣科學碩士/計算機科學碩士/計算機科學博士學位（獲優秀博士獎）。他2000-2003年任美國IBM研究中心研究員。2003年至今執教于UT Austin, 任集成電路設計及自動化實驗室主任。在他指導下已有20位博士生畢業。在他領域的頂級學術期刊和會議發表論文超過240多篇，擁有8項美國專利。他的科研成果不僅在學術界被廣泛引用，還大量實際應用于工業界。他擔任許多頂尖期刊的編委，衆多國際會議及學會的主席，并擔任過許多國際知名公司的顧問或主持合作項目。他被選為2012－2014年度UT Austin亞裔教授員工協會主席。他榮獲過30多個國際重要獎項，包括：世界頂尖的半導體研究聯盟Semiconductor Research Corporation (SRC) 2013年度傑出研究大獎的唯一得主；數次榮獲電子設計自動化領域國際頂級會議的頂級作者獎／頻繁引用作者獎; 13次榮獲最佳論文獎；美國 NSF CAREER Award; 中國自然科學基金海外及港澳學者合作研究基金 (即海外傑青)；加州大學洛杉矶分校工學院傑出年青校友獎; 四次獲得IBM教授獎；德州大學奧斯汀分校傑出亞裔教授獎，等等。

計算機網絡和信息集成教育部重點實驗室（bet356手机版唯一官网）